检测称重仪表程序有哪些？

　　一、抗干扰性能实验

　　1)包括：短时电源电压跌落和中断、电快速瞬间脉冲群、静电放电、浪涌、抗辐射电磁场和抗传导射频场。

　　2)电磁辐射(RS)：用于考察仪表对外界高频电磁场干扰的，高频电磁波的干扰是通过空间传输。输入10d或除零点外最小负荷值进行实验。干扰源为场强是10V/m,频率范围为80-2000MHz,调制80%AM,1kHz的正弦电磁波。将仪表放置于规定的电磁场中，观察仪表的示值变化应不产生大于1d的变差或能处理的显著增差。

　　3)射频场传导(CS)：指外界低频电磁场通过耦合在电缆上产生感应电流或电压，沿着电缆进入仪表内部，考察仪表抗干扰能力，相当于在将仪表电源加入规定的电磁波信号。10d或除零点外最小负荷值进行实验。干扰源为射频幅值(50Ω)10V(e.m.f)，频率范围为0.15-80MHz,调制80%AM,1kHz的正弦电磁波。

　　4)浪涌(冲击)(surge)：用来模拟自然雷击或者电网中接入大容性负载所产生的脉冲对仪表的影响。输入10d或除零点外最小负荷值进行实验。差模：L-N( 0.5kV、60s、3次)，;共模：L-PE、N-PE、LN-PE(1kV、60s、3次)，受试仪表应不产生大于1d的变差或能处理的显著增差。

　　5)电快速瞬间脉冲群(EFT/B)：模拟设备附近或电网中发生感性负载时导致的脉冲干扰。输入10d或除零点外最小负荷值进行实验。严酷等级2级(脉冲幅度1 kV)，测试实施于供电回路，分别进行正负极性试验;实验持续时间不少于30s(或100个脉冲群);实验应在室温下进行。受试仪表应不产生大于1d的变差或能处理的显著增差。

　　6)短时电源电压跌落(DIP/i)：模拟电网中接入大功率的设备引起的电网电压和短时中断现象，仪表的性能稳定性。分别输入10d及接近max的信号进行试验;每隔10s使试验电压发生器在半周期将供电电压跌落到“0”，进行10次;每隔10s使试验电压发生器在半周期将供电电压跌落到“50”，进行10次;受试仪表应不产生大于1d的变差或能处理的显著增差

　　7)静电放电(ESD)：模拟仪表在接收外界静电(如人体或设备带电)产生的放电或静电场干扰时的抵抗能力。分别输入10d及接近max的信号进行试验。严酷等级为3级(空气放电8 kV，接触放电6 kV);放电至少10次，时间间隔1s。受试仪表应不产生大于1d的变差或能处理的显著增差。

　　8)判断标准：当仪表处于干扰场合时，判断其合格的标准为不发生显著增差或检测出显著增差但没有跟其他信息混淆。此规定可理解为发生显著增差时，增差的变化量不计，仪表能迅速恢复，恢复后示值变化量不大于e,恢复时间不太长，可判定为合格;若不能迅速恢复或连续出现显著增差则判定为不合格。

　　9)工频磁场发生器(PMS)：模拟工频电力线所构成的磁场(如大型变压设备附近的磁场)对仪表产生的影响。

　　二、电气安全性测试

　　1、分Ⅰ类和Ⅱ类：区别具有防安全保护接地;

　　2、实验前提：应在湿热试验后;

　　3、绝缘电阻：直流500V条件下绝缘电阻不低于5MΩ(Ⅱ类10 MΩ);

　　4、交流漏电流：交流供电电源电压上限(110%242V)条件下交流漏电不大于3.5mA(Ⅱ类0.25 mA);

　　5、耐压：仪表施加1500V交流电压下1min不击穿(Ⅱ类3000V);

　　6、接地电阻测试：施加10倍的标称切断电流(20A);仪表保护接地端与各个可能触及的导电性零部件之间的电阻不大于0.1Ω(电源线不损坏)。

　　三、温度测试

　　1、温度测试包括温度对量程的影响和温度对零点的影响，温度点选择20℃、40℃、-10℃、5℃、20℃，测试流程参照GB/T 23111-2008中图A.3。温度对量程的影响允差等同常温允差(0.5e* Pi、1.0e* Pi、1.5e* Pi ;Pi取0.5)。温度对零点的影响测试相邻温度，计算每5

　　℃(级标准)的零点误差变化，变化量不大于e·Pi，Pi取0.5。

　　2、注意事项：温度测试前不允许预加载;如果仪表有自动置零或零点跟踪装置应关闭;对纯数字模块及数字仪表只

　　考核在工作温度的上下限能否工作正常，不考核误差;级仪表温度范围不小于30℃;

　　四、运输包装测试

　　1、包装跌落测试：方法参照GB/T4857.5和GB/T7724-2008中6.15.1，测试后检查包装及内装仪表的情况。外包装不应破裂，仪表外观不应损伤。接通电源检查，仪表的计量性能和功能正常。

　　2、包装振动测试：方法参照GB/T4857.10和GB/T7724-2008中6.15.2，测试后检查包装及内装仪表的情况。外包装不应破裂，仪表外观不应损伤和部件松动。接通电源检查，仪表的计量性能和功能正常。(35HZ、30min、3mm、20g)

　　3、包装碰撞实验：方法参照GB/T4857.20和GB/T7724-2008中6.15.3，测试后检查包装及内装仪表的情况。外包装不应破裂，仪表外观不应损伤和部件松动。接通电源检查，仪表的计量性能和功能正常。